Việc kiểm soát ứng suất thủy tinh là một mắt xích rất quan trọng trong quy trình sản xuất thủy tinh và phương pháp áp dụng xử lý nhiệt thích hợp để kiểm soát ứng suất đã được các kỹ thuật viên thủy tinh biết đến.Tuy nhiên, làm thế nào để đo chính xác ứng suất của kính vẫn là một trong những bài toán khó khiến đa số các nhà sản xuất và kỹ thuật kính bối rối, đồng thời cách ước lượng thực nghiệm truyền thống ngày càng không phù hợp với yêu cầu chất lượng của sản phẩm kính trong xã hội ngày nay.Bài viết này giới thiệu chi tiết các phương pháp đo ứng suất thường được sử dụng, hy vọng sẽ hữu ích và làm sáng tỏ cho các nhà máy sản xuất kính:
1. Cơ sở lý thuyết của việc phát hiện stress:
1.1 Ánh sáng phân cực
Người ta biết rằng ánh sáng là sóng điện từ dao động theo phương vuông góc với phương tiến tới, dao động trên mọi bề mặt dao động vuông góc với phương tiến tới.Nếu bộ lọc phân cực chỉ cho phép một hướng rung nhất định đi qua đường ánh sáng được đưa vào thì có thể thu được ánh sáng phân cực, gọi là ánh sáng phân cực và thiết bị quang học được chế tạo theo đặc tính quang học là bộ phân cực (Trình xem biến dạng của kính phân cực).Trình xem độ căng của kính phân cực YYPL03
1.2 Hiện tượng lưỡng chiết
Thủy tinh có tính đẳng hướng và có cùng chiết suất theo mọi hướng.Nếu có ứng suất trong thủy tinh, tính chất đẳng hướng bị phá hủy, làm cho chiết suất thay đổi và chiết suất của hai hướng ứng suất chính không còn giống nhau, nghĩa là dẫn đến hiện tượng lưỡng chiết.
1.3 Sự khác biệt về đường dẫn quang
Khi ánh sáng phân cực đi qua một tấm kính chịu ứng suất có độ dày t, vectơ ánh sáng sẽ tách thành hai thành phần dao động theo hướng ứng suất x và y tương ứng.Nếu vx và vy lần lượt là vận tốc của hai thành phần vectơ thì thời gian cần thiết để truyền qua kính lần lượt là t/vx và t/vy và hai thành phần không còn đồng bộ thì có sự chênh lệch đường truyền quang δ
Thời gian đăng: 31-08-2023